Copyright ? 江西省納米技術(shù)研究院 版權(quán)所有
贛ICP備17004909號-1 Email:chenke2016@sinanonc.cn
聯(lián)系地址:江西省南昌市小藍經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)羅珠路278號(金湖公園對面) 網(wǎng)站建設(shè):中企動力 南昌
6英寸Si襯底高質(zhì)量AlGaN/GaN HEMT結(jié)構(gòu)異質(zhì)外延
產(chǎn)品名稱
6英寸Si襯底高質(zhì)量AlGaN/GaN HEMT結(jié)構(gòu)異質(zhì)外延
概要信息
編號
重量
0.00
零售價
0.00
元
市場價
¥0.00
元
產(chǎn)品描述
傳統(tǒng)的硅(Si)功率器件因材料限制逐漸不能滿足未來功率電子器件的發(fā)展趨勢。作為重要的第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料GaN,因其禁帶寬度大、擊穿電場高,異質(zhì)結(jié)二維電子氣濃度高、電子飽和漂移速度高,且化學(xué)惰性和高溫穩(wěn)定性好,從而能夠獲得很高的擊穿電壓和功率密度以及極高的工作頻率,較小的開關(guān)損耗。
基于AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)構(gòu)的增強型HEMT器件的制備是實現(xiàn)GaN基功率電子器件實際應(yīng)用的必經(jīng)之路,也是技術(shù)難點。由于各種因素的限制,在大尺寸晶圓上實現(xiàn)均勻、穩(wěn)定、重復(fù)、低損傷的干法刻蝕工藝非常困難。在此背景下,本項目團隊提出了一種具有自主知識產(chǎn)權(quán)的制備p-GaN柵HEMT新技術(shù),它避免了刻蝕損傷,采用平面工藝鈍化的原位高阻GaN帽層可提高器件耐壓、抑制電流崩塌,且工藝成本低廉,具有極大的市場應(yīng)用潛力。
未找到相應(yīng)參數(shù)組,請于后臺屬性模板中添加
暫未實現(xiàn),敬請期待
暫未實現(xiàn),敬請期待
上一篇
下一篇